【歡迎報名】10月25日-光與照明國際最新標準與技術發展現況研討會 (CIE-Taiwanc會員免費)

 

 

 

 

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國際照明委員會(CIE)第29屆四年一次大會於6月14日至22日假美國華盛頓DC舉行,期間召開多場技術工作組和技術標準討論會議。台灣照明委員會(CIE-Taiwan)多名代表出席本屆會議,並攜回寶貴的第一手訊息。主辦單位特別請親臨會議的各召集人及專家分享會議中最新第一手訊息,挑選出數個對台灣產業重要的議題,為大家深入解說,先一步了解這些標準、技術的最新修訂及發展狀況,讓您不用出國也能得知國際間最新的標準資訊,竭誠歡迎您的參與。

 

時        間:2019年10月25日(五)14:20~16:50

地        點:APA藝文中心 大夏館403室(台北市大安區建國南路二段231號

指導單位:經濟部技術處

主辦單位:台灣照明委員會 (CIE Taiwan) 、工業技術研究院量測中心

報名費用:CIE-Taiwan公司會員免費,非會員NT 1,500元 /人

付款方式:
匯款或轉帳:土地銀行(005)工研院分行, 帳號156-005-0000-33
*匯款時請註明參加者姓名、所屬機構與課程名稱。匯款後請將匯款收據傳真03-572-6445或e-mail: cie_Taiwan@itri.org.tw

報名方式:限網路報名 (10月23日 17:00截止)

                    CIE-Taiwan公司員報名專區       非會員報名專區         

                    * 會員名單查詢http://cie-taiwan.itri.org.tw/company.html

                    * 會員帳號密碼請洽各公司聯絡人,如有疑問請洽本活動聯絡人

議        程:

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~ 精彩演講 先睹為快~

CIE第八小組影像科技發展近況 /中國文化大學 資訊傳播系 徐明景 教授


徐明景教授專長為影像色彩科學與應用,目前擔任臺灣照明委員會影像科技小組之召集人,任教於文化大學與臺灣師範大學,教授色彩度量學、色彩管理系統、彩色複製系統、數位攝影等課程。曾擔任文大資訊傳播系主任、中央研究院數位文化中心數位技術顧問、中華攝影教育學會理事長、中華色彩學會秘書長。新近的研究方向在於多頻譜影像色彩技術的跨領域應用,如博物館數位典藏等。

CIE Div. 8 Imaging Technology每年的會議包含各工作小組的近況報告,將在此分享會中提供各小組技術發展現況與趨勢分析。除此之外在華盛頓的2019年會中,提到色匹配函數的修正式,可能可以解決色彩空間編碼方式與視覺感知落差的問題,這其中對影像科技的影響與潛在衝擊,也將在此研討會中討論。

 

新LED量測標準- LED標準光源發展趨勢/ 工研院量測中心 陳政憲 資深研究員


陳政憲 資深研究員現任職工研院量測中心,目前專注於LED照明標準與量測技術相關研究,包括LED道路照明、LED室內照明、LED元件及模組、國家度量衡標準實驗室LED系統負責人。近期研究領域著重於智慧城市照明應用場域,提出全國首例之智慧漁港架構,包含以人工智慧深度學習之辨識系統與智慧車載量測系統,發展出舒適且低眩光之智慧照明環境,執行之場域獲得照明學會照明金質獎。

本次講題講介紹CIE新LED量測標準,包含以LED為基礎之傳遞標準件、LED照明環境之眩光量測技術與最新LED量測標準。該標準應用於智慧照明、智慧城市與室內照明之範疇,可解決LED照明眩光量測之問題,應用於LED照明環境之設計與評估與智慧照明之設計準則。LED標準件之研製與選用,對於下階段氣體放電燈之取代品,如何有效的導入CIE標準之建議。新式LED量測系統設備之開發,導入CIE標準切入國際市場與國際認驗證體系。

 

反射式眩光量測與評價技術之應用 / 工研院量測中心 洪紹棠 副研究員


洪紹棠 副研究員現任職工研院量測中心,為顯示器國家實驗室負責人、反射率標準校正人員、CIE DR 1-69負責人(Applicability of Metrics for Evaluating Reflected Glare on Displays)、SEMI Draft Document #5949負責人(Test Methods for Local and Overall Flicker of Flexible Displays)。
此次講題為CIE DR 1-69反射式眩光量測技術,此議題為CIE Reportership提案,著重於顯示器反射式眩光的量測與評估方法,此評估方法包含BRDF多角度反射率量測技術、ILMD影像量測技術,藉由影像與光學原理,準確評估反射眩光對人眼之刺激。反射式眩光量測技術可應用於顯示器成像面之光學幾何特性技術開發、光環境整合量測分析,藉此技術可有效推動量測儀器與光學、顯示產業之技術整合與發展。

 


*發票將於活動結束後一周內以e-mail寄發報名者。

*本研討會不印發講義

*以上資訊提供參考,相關議程內容主辦單位保有調整權利

*活動聯絡人:范小姐/TEL:03-5743875/ E- mail : cie_taiwan@itri.org.tw